Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada

Adicionar a sua avaliação

R$122.00

SKU: 9788520433751 Tags: ,

R$122.00

Adicionar a lista de desejosAdicionado a lista de desejosRemovido da lista de desejos 0
Adicionar para comparar

Fundamentos de metrologia científica e industrial – revisada, atualizada e ampliada

Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Especificação: Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada

Autor

, , ,

Formato

BOOK

Editora

ISBN

9788520433751

Ano de Publicacao

2017

Numero de Paginas

480

Idioma

Português

Edição

2

Encadernacao

Brochura

Dimensões

15.5 x 2.5 x 22.5

1 avaliação para Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada

5.0 fora de 5
0
0
0
0
0
Escreva uma avaliação

Não existe nenhuma avaliação ainda.

Seja o primeiro a avaliar “Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada”

O seu endereço de e-mail não será publicado. Campos obrigatórios são marcados com *

Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada
Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada

R$122.00

Booklover
Logo
Comparar itens
  • Total (0)
Comparar
0
Shopping cart