Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada

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Fundamentos de metrologia científica e industrial – revisada, atualizada e ampliada

Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Especificação: Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada

Autor

Formato

BOOK

Editora

ISBN

9788520433751

Ano de Publicação

2017

Número de Páginas

480.0

Dimensões

15.5 x 2.5 x 22.5

Idioma

Português

Edição

2

Encardenação

Brochura

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